A.加设屏蔽,用金属屏蔽罩或网把试品与千扰源隔开
B.釆用轸相电源
C.倒相法
D.将电桥移到磁场范围以外
A.大容量设备的局部缺陷
B.非穿透性局部损坏(测介损时没有发生局部放电)
C.很小部分绝缘的老化劣化
D.个别的绝缘弱点
开始考试点击查看答案A.整体性的缺陷和小电容试品严重局部缺陷
B.绝缘整体受潮
C.穿透性导电通道
D.绝缘的全面老化劣化
开始考试点击查看答案A.电压应该平滑地调节;
B.调压器应在试验变压盔的输入端提供从零到额定值的电压,电压具有正弦波形且没有畸变;
C.调压器的容量应不小于试验变压器的容量
D.在有滑动触头的调压器中,不应该发生火花
开始考试点击查看答案A.线路端子L接于被试设备的髙压导体上;
B.接地端子E接于被试设备的外壳或地上;
C.屏蔽端子G接于被试设备的高压屏蔽环/罩上,以消除表面泄漏电流的影响。
D.不需要屏蔽端子G
开始考试点击查看答案A.电阻分压器
B.电容分压器
C.阻容串联分压器
D.阻容并联分压器
开始考试点击查看答案A.试验设备容量小,重量轻,便于现场试验
B.可同时进行泄漏电流测量
C.对绝缘损伤小
D.对交流电气设备绝缘的考验不如交流耐压试验接近实际
开始考试点击查看答案A.视在放电量
B.放电重复率
C.放电能量
D.平均电电流
开始考试点击查看答案A.峰值
B.有效值
C.各次谐波值
D.平均值
开始考试点击查看答案A.高阻微安表
B.电容分压器
C.电阻分压器
D.静电电压
开始考试点击查看答案A.球隙必须串有很大阻值的保护电阻
B.串接电阻越大越好
C.一般规定串联的电阻不超过500Ω
D.放电时间很短,不需要串接电阻来保护球面。
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