A.集中性
B.整体缺陷
C.局部缺陷
D.分布式缺陷
A.定期清扫绝缘子:
B.在绝缘子表面上涂一层憎水性的防尘材料:
C.在绝缘子表面上涂一层亲水性的防尘材料:
D.增加绝缘子片数或使用防污绝缘子。
开始考试点击查看答案A.击穿电压较高:
B.击穿电压较低;
C.击穿时间较长
D.电穿时间较短
开始考试点击查看答案A.击穿电压较高:
B.击穿电压较低;
C.击穿时间较长:
D.击穿时间较短地
开始考试点击查看答案A.5kA
B.8kA
C.10kA
D.20kA
开始考试点击查看答案A.雷电冲击残压
B.陡波冲击残压除以1.15
C.雷电冲击电流
D.雷电冲击残压和陡波冲击残压除以1.15两个值中的较大者
开始考试点击查看答案A.测量绝缘电阻能反映集中性和分布性的缺陷,适用任何设备:
B.测量进漏电流能更灵敏题反应测绝缘电阻所发现的缺陷:
C.测量介质损失角正切能发现绝缘整体普遍劣化及大面积受潮。适用体积小的设备。
D.测量绝缘电阻只能反映集中性的缺陷,适用大型设备。
开始考试点击查看答案A.灭弧电压:
B.残压;
C.工频放电电压:
D.冲击放电电压
开始考试点击查看答案A.绕击雷过电压:
B.直击雷过电压;
C.感应雷过电压:
D.侵入波过电压。
开始考试点击查看答案A.耐电强度;
B.绝缘电阻:
C.介质损失角正切:
D.泄漏电流。
开始考试点击查看答案A.碰撞游离;
B.表面游离;
C.光游离:
D.电荷畸变电场。
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