平面波入射到曲界面上折射波产生聚焦或发散的依据是（ ）。

试卷相关题目

• 1在同一介质中，纵波反射角（ ）横波反射角。

  A.大于

  B.等于

  C.小于

  D.以上都不一定对

  开始考试点击查看答案
• 2超声波倾斜入射到异质介面时， 不可能发生（ ）。

  A.反射

  B.折射

  C.波型转换

  D.端角反射

  开始考试点击查看答案
• 3超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时将发生（ ）。

  A.无绕射只反射

  B.只绕射无反射

  C.既绕射又反射

  D.以上都可能

  开始考试点击查看答案
• 4一台垂直线性好的超声波探伤仪，在显示屏上的回波由 60 ％降至 7.5 ％（显示屏垂直刻度），应衰减（ ）。

  A.6dB

  B.24dB

  C.12dB

  D.18dB

  开始考试点击查看答案
• 5超声波探伤仪垂直线性好，说明（ ）。

  A.任意两波高之比H1/H2约等于声压P1/P2之比

  B.任意两波之比H1/H2反比于声压之比P1/P2

  C.任意两波之比H1/H2大于声压之比P1/P2

  D.任意两波之比H1/H2小于声压之比P1/P2

  开始考试点击查看答案
• 6横波斜探头直接接触法探测钢板焊缝时，其横波在（ ）产生。

  A.有机玻璃楔块中

  B.从晶片中

  C.有机玻璃与耦合界面上

  D.耦合层与钢板界面上

  开始考试点击查看答案
• 7为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷的位置、方向和形状，可采用（ ）等探头基本扫查方式。

  A.前后、左右

  B.转角

  C.环绕

  D.以上都是

  开始考试点击查看答案
• 8横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（ ）。

  A.探头磨损会使入射点发生变化

  B.探头磨损可能导致探头K值的增大

  C.探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化

  D.探头磨损可能导致探头K值的减小

  开始考试点击查看答案
• 9超声检测中需经常校验探头 K 值的原因是（ ）。

  A.K 值是不稳定的数据

  B.K 值随电压的变化而变化

  C.K 值常因磨损而发生变化

  D.以上都对

  开始考试点击查看答案
• 10使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果（ ）。

  A.小于实际尺寸

  B.接近声束宽度

  C.稍大于实际尺寸

  D.等于晶片尺寸

  开始考试点击查看答案