A.绕组绝缘是否局部损坏
B.绕组损耗大小
C.内部是否放电
D.绕组绝缘是否受潮
A.L端子
B.B端子
C.G端子
开始考试点击查看答案A.介质被热腐蚀
B.介质被化学腐蚀
C.介质中出现局部放电
D.介质被击穿
开始考试点击查看答案A.测量tanδ
B.测量吸收比
C.则量泄漏电流
D.测量绝缘电阻
开始考试点击查看答案A.电压分布
B.局部电压
C.试验电压
D.温度
开始考试点击查看答案A.越均匀
B.越不均匀
C.两者无关
D.取决于其他因素
开始考试点击查看答案A.减少
B.增大
C.不变
开始考试点击查看答案A.老化系数
B.介电常数
C.绝缘电阻
D.绝缘电容
开始考试点击查看答案A.1.2
B.1.25
C.1.3
D.1.35
开始考试点击查看答案A.破坏性试验
B.非破坏性试验
C.耐压试验
D.击穿试验
开始考试点击查看答案A.纸
B.聚酯薄膜
C.硅橡胶
D.陶瓷
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