A.请工厂工程师对仪器进行维修,必要时更换零件
B.用户的专业人员对仪器内部进行调试,使仪器到达最佳状态
C.仪器操作者使用仪器时操作仔细
D.在正常使用条件下对仪器性能指标的测试
E.以上都不是
A.样品体积
B.样品衰变常数
C.样品颜色
D.样品比活度
E.样品温度
开始考试点击查看答案A.晶体对温度敏感
B.晶体易潮解
C.晶体必须防磁
D.晶体必须与光电倍增管物理性隔离
E.以上都不是
开始考试点击查看答案A.连续放电区
B.饱和区
C.复合区
D.正比区
E.以上都不是
开始考试点击查看答案A.闪烁探测器的计数率特性
B.闪烁探测器的能量分辨率
C.闪烁探测器的探测效率
D.闪烁探测器的能量线性
E.闪烁探测器的空间分辨率
开始考试点击查看答案A.分部积分法
B.迭代法
C.傅立叶变换法
D.最大似然-期望值最大化(MEML)
E.滤波反投影法
开始考试点击查看答案A.能量分辨率
B.空间分辨率
C.计数率特性
D.探测效率
E.多探头的效率一致性
开始考试点击查看答案A.针孔准直器
B.发散孔准直器
C.汇聚孔准直器
D.平行孔准直器
E.低能准直器
开始考试点击查看答案A.几何平均法
B.算术平均法
C.根据物质密度分布的实际情况进行校正
D.后校正方法
E.指数平均法
开始考试点击查看答案A.γ射线
B.β射线
C.α射线
D.中子
E.以上都不是
开始考试点击查看答案A.由于正电子的射程很短,电子准直的探测效率低
B.电子准直将正电子核素发射的正电子准直,使探测器能探测到正电子
C.利用时间符合确定湮灭辐射的空间位置
D.电子准直不使用吸收材料,探测效率较低
E.电子准直可以使向各个方向辐射的光子改变方向,并将其按角度分组
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