A.在符合探测中，总计数中除真符合外，不可避免地包含着散射符合和随机符合的计数率
B.在PET图像中，除了与真符合计数相关的统计涨落噪声外，还必须考虑散射和随机符合噪声
C.为评估PET图像质量，引入了噪声等效计数，以衡量噪声
D.噪声等效计数率等于总计数减去真符合计数率再与总计数的比值
E.数率特征反映总符合计数率、真实符合计数率、随机符合计数率、散射符合计数率和噪声等效计数率随活度的变化
A.PET系统对散射计数的敏感程度，散射分数越小，系统剔出散射符合的能力越强
B.散射分数有断层散射分数和系统散射分数
C.某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比
D.散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和
E.系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
开始考试点击查看答案A.PET系统对一个点源的成像扩展为一个分布，该分布称为点扩展函数（PSF）
B.PSF的FWHM越大，点源的扩展程度越大，分辨率越低
C.两个湮灭光子的运动方向不可能成180°角，要偏向电子偶的运动方向
D.正电子飞行距离是从零到最大射程连续分布，大多数正电子能量位于1/2Emax左右
E.两个湮灭光子的运动方向偏转角呈高斯分布，偏转角的半高宽为0.3
开始考试点击查看答案A.脉冲能谱分布的半高宽与入射光子能量之比越小，能量分辨率越高
B.能窗下限可将低能量的散射光子排除掉
C.能窗上限过高将导致真符合计数的大量丢失
D.能量分辨率主要取决于晶体性能
E.能量分辨率与探测系统的设计有关
开始考试点击查看答案A.晶体的发射光谱愈窄，在光电倍增管中的光电转换愈好
B.晶体的衰减长度短，探测效率提高，空间分辨高降低
C.晶体的衰减时间短，则时间分辨好，可使随机符合事件下降，系统死时间缩短
D.晶体光电效应分支比高，则定位精度好，能量分辨率好
E.晶体的发光效率高，则能量分辨好
开始考试点击查看答案A.晶体加厚使入射光子与晶体的相互作用机会增加，探测效率提高
B.晶体加厚使光电倍增管产生的脉冲能谱展宽，能量分辨下降
C.晶体面积增大，PET灵敏度提高
D.晶体面积增大，PET空间分辨率提高
E.成像时，接收到的射线均定位在小晶体探测器的中心
开始考试点击查看答案A.描述PET系统对随机符合及由此时间引起的计数丢失的校正精度
B.用校正后的剩余相对误差∆R表示校正精度
C.∆R＝（Rtrues/Rextrap-1）×100%
D.Rtrues为真实符合计数率
E.Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
开始考试点击查看答案A.散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力
B.用散射校正后的剩余误差∆C描述散射校正精度
C.在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，∆C＝（Ccold/CB）×100%
D.Ccold为图像上冷插件内计数
E.CB为图像上的总计数
开始考试点击查看答案A.CH，j/CB，j-1∶aH/aB-1×100%
B.CC，j/CB，j-1∶aC/aB-1×100%
C.（1-CC，j/CB，j）×100%
D.（1-CH，j/CB，j）×100%
E.以上公式都不对
开始考试点击查看答案A.PET空白扫描的辐射源是X线球管
B.空白扫描的目的是监测探测器性能随时间发生的漂移
C.空白扫面的结果变异超过某一阈值会报警
D.空白扫描的结果经探测效率归一化校正后，与标准化正弦图比较，达不到要求的探测器块显示出来
E.当不合格的探测器块较多时，应重新测定探测效率归一化校正系数图
开始考试点击查看答案A.3D采集的数据过剩，2D采集的数据不完整
B.2D采集只允许同环内的探测器相互形成符合线
C.3D采集允许不同环间的探测器相互符合
D.3D方式使系统的灵敏度远远高于2D方式
E.3D散射符合所占的比例大大低于2D方式
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