¥5.00
推荐等级:A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大
开始考试练习点击查看答案A.7.5MHz
B.25MHz
C.20MHz
D.30MHz
开始考试练习点击查看答案A.17.3mm
B.23.1mm
C.73.2mm
D.36.6mm
开始考试练习点击查看答案A.直通波和缺陷上尖端信号相位相同
B.直通波和缺陷下尖端信号相位相同
C.直通波和底面反射波信号相位相同
D.以上都对
开始考试练习点击查看答案A.采用纵波
B.采用宽波束探头
C.采用端点衍射信号
D.采用时差计算
开始考试练习点击查看答案A.折射65°时,信号波幅最大
B.折射角在38°时波幅下降很大
C.折射角在20°时波幅又回升
D.以上都对
开始考试练习点击查看答案A.横向裂纹没有衍射信号
B.横向裂纹衍射信号的波幅太低
C.横向裂纹衍射信号的长度太短
D.横向裂纹产生波型转换,会迟于底面反射波到达
开始考试练习点击查看答案A.TOFD检测使用的探头脉冲更短
B.TOFD检测使用的探头频带更宽
C.TOFD检测使用的探头频率更高
D.TOFD检测使用的扩散角更大
开始考试练习点击查看答案A.5MHz的高通滤波器和20MHz的低通滤波器
B.5MHz的低通滤波器和20MHz的高通滤波器
C.3MHz的高通滤波器和15MHz的低通滤波器
D.3MHz的低通滤波器和15MHz的高通滤波器
开始考试练习点击查看答案A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小,则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区
开始考试练习点击查看答案高中教育高考语文(重庆卷)2013年普通高等学校招生全国统一考试
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