企事业内部考试类其他其他无损检测测试题45
题目内容

下面关于TOFD偏置非平行扫查的说法,正确的是:(    )

2024-07-12

A.可得到准确的深度值

B.可提高缺陷高度测量的精度

C.可解决轴偏离盲区问题

D.可改进缺陷定位

题目答案

试卷相关题目

最新试卷
热门试卷

长理培训客户端 资讯,试题,视频一手掌握

去 App Store 免费下载 iOS 客户端