CR与DR系统应用比较，相同点是

试卷相关题目

• 1屏/片系统成像与数字平板X线摄影的共同之处是

  A.图像存储

  B.成像能源

  C.转换介质

  D.成像方式

  E.传输方式

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• 2关于平板探测器的叙述，错误的是

  A.有直接转换型和间接转换型

  B.其极限分辨率比屏/片系统低

  C.其MTF比屏/片系统低

  D.其DQE比屏/片系统高

  E.DQE比CR系统高

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• 3关于CR的工作原理，正确的是

  A.IP由基层、荧光体层和保护层构成

  B.IP由基层、晶体层构成

  C.IP用于检测图像数据

  D.IP用于存储图像数据

  E.IP用于传输图像数据

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• 4多丝正比电离室探测器是

  A.直接探测器

  B.间接探测器

  C.模拟探测器

  D.平板探测器

  E.动态探测器

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• 5DR相比于CR

  A.成像时间短

  B.X线利用效率高

  C.图像质量好

  D.系统成本高

  E.以上都是

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• 6应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是

  A.硒鼓检测器

  B.IP成像转换器

  C.直接转换平板探测器

  D.间接转换平板探测器

  E.多丝正比室检测器

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• 7从X线到影像按“潜影→可见光→数字影像”这—程序转换的是

  A.Ⅱ+TV摄像机

  B.成像板

  C.闪烁体+CCD摄像机阵列

  D.直接转换平板探测器

  E.间接转换平板探测器

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• 8FPD能够成为平板形状，主要是探测器的单元阵列采用的是

  A.薄膜晶体管技术

  B.光敏照相机技术

  C.光电倍增管技术

  D.光激励发光技术

  E.非晶硒技术

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• 9间接DR中，位于FPD顶层的是

  A.非晶硒

  B.碘化铯

  C.钨酸钙

  D.非晶硅

  E.CCD

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• 10直接平板探测器的线性度范围是

  A.0.048611111111

  B.1:100

  C.1：1000

  D.1：10000

  E.1：100000

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