A.硒鼓检测器
B.IP成像转换器
C.直接转换平板探测器
D.间接转换平板探测器
E.多丝正比室检测器
A.成像方式
B.操作方式
C.床旁摄影
D.可应用于常规摄影
E.与常规X线设备匹配
开始考试点击查看答案A.图像存储
B.成像能源
C.转换介质
D.成像方式
E.传输方式
开始考试点击查看答案A.有直接转换型和间接转换型
B.其极限分辨率比屏/片系统低
C.其MTF比屏/片系统低
D.其DQE比屏/片系统高
E.DQE比CR系统高
开始考试点击查看答案A.IP由基层、荧光体层和保护层构成
B.IP由基层、晶体层构成
C.IP用于检测图像数据
D.IP用于存储图像数据
E.IP用于传输图像数据
开始考试点击查看答案A.直接探测器
B.间接探测器
C.模拟探测器
D.平板探测器
E.动态探测器
开始考试点击查看答案A.Ⅱ+TV摄像机
B.成像板
C.闪烁体+CCD摄像机阵列
D.直接转换平板探测器
E.间接转换平板探测器
开始考试点击查看答案A.薄膜晶体管技术
B.光敏照相机技术
C.光电倍增管技术
D.光激励发光技术
E.非晶硒技术
开始考试点击查看答案A.非晶硒
B.碘化铯
C.钨酸钙
D.非晶硅
E.CCD
开始考试点击查看答案A.0.048611111111
B.1:100
C.1:1000
D.1:10000
E.1:100000
开始考试点击查看答案A.地址编码电路
B.信号放大电路
C.滤波电路
D.A/D转换电路
E.显示电路
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