A.探头去准直器，加铅栅模型，对正X、Y方向
B.置放点源于5倍探头视野的距离之外，与中轴对齐
C.设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像
D.依次90°转动模型，重复采集图像，直至4个方位完成，去掉点源铅栅，换上准直器
E.所能看见的最小线条即为铅栅分辨率，FWHM=0.5×最小铅栅间隔
A.准直器类型
B.探测距离的变化
C.矩阵的变化
D.收集计数的多少
E.每步采集角度
开始考试点击查看答案A.点源活度0.3～0.5mCi，体积≤1ml，计数率≥30k/s
B.将探头准直器去掉，按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩
C.置放点源于5倍探头视野的距离之外，对准视野中心
D.20%中心能窗，64矩阵，计数1000k以上
E.收起点源，换上准直器，用软件求出视野内的最大计数与最小计数
开始考试点击查看答案A.能峰设置不正确
B.每小时温差超过1℃
C.探头轴向倾斜
D.光电倍增管高压漂移
E.旋转中心漂移
开始考试点击查看答案A.0.05
B.0.1
C.0.15
D.0.2
E.0.25
开始考试点击查看答案A.95%视野内全部像素中最大计数与最小计数的差与和的百分比
B.95%视野内相邻五个像素为一组，找出两个像素最大计数差值，计算这两个计数差与和的百分比
C.75%有效视野内全部像素中最大计数与最小计数的差与和的百分比
D.75%有效视野内相邻五个像素为一组，找出两个像素最大计数差值，计算这两个计数差与和的百分比
E.以上都不对
开始考试点击查看答案A.探头去准直器，平行于X方向将模型置于视野中间，设置20%居中能窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像
B.平行于Y方向置放模型，重复采集；去掉线源模型，精确测量模型上两线源之间的距离
C.垂直于线源图像勾画3个像素宽的剖面线，求出剖面线上每一个像素的计数值，并将每个像素的计数值绘制在坐标纸上组成正态分布曲线
D.测量坐标纸上两个波峰之间像素数，测量其中一正态分布曲线1/2峰高处的像素数
E.用模型上两线源之间的精确距离除以图像上两峰值之间的像素数，得出像素尺寸，然后用正态分布曲线1/2峰高处宽度的像素数乘以像素尺寸即得到FWHM
开始考试点击查看答案A.探头去准直器，加铅栅模型，点源置于5倍探头视野的距离外，与中轴对齐
B.铅栅平行X方向，设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上数，采集图像
C.转动铅栅模型使之平行于Y方向，重复图像采集；去掉点源、铅栅模型，换上准直器
D.直观铅栅图像，并与参考图像相比照，粗略判断线条有无畸形
E.计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置，并计算出绝对线性和微分线性
开始考试点击查看答案A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
开始考试点击查看答案A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
开始考试点击查看答案A.视野内各点计数值之间的差异
B.仪器可以分辨的两点之间最小间隔的能力
C.描述图像的畸变程度
D.仪器对已知强度的放射源的响应能力
E.入射光子的脉冲能谱分布的半高宽与其能量之比
开始考试点击查看答案长理培训客户端 资讯,试题,视频一手掌握
去 App Store 免费下载 iOS 客户端