A.探头去准直器，加铅栅模型，点源置于5倍探头视野的距离外，与中轴对齐
B.铅栅平行X方向，设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上数，采集图像
C.转动铅栅模型使之平行于Y方向，重复图像采集；去掉点源、铅栅模型，换上准直器
D.直观铅栅图像，并与参考图像相比照，粗略判断线条有无畸形
E.计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置，并计算出绝对线性和微分线性
A.探头去准直器，平行于X方向将模型置于视野中间，设置20%居中能窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像
B.平行于Y方向置放模型，重复采集；去掉线源模型，精确测量模型上两线源之间的距离
C.垂直于线源图像勾画3个像素宽的剖面线，求出剖面线上每一个像素的计数值，并将每个像素的计数值绘制在坐标纸上组成正态分布曲线
D.测量坐标纸上两个波峰之间像素数，测量其中一正态分布曲线1/2峰高处的像素数
E.用模型上两线源之间的精确距离除以图像上两峰值之间的像素数，得出像素尺寸，然后用正态分布曲线1/2峰高处宽度的像素数乘以像素尺寸即得到FWHM
开始考试点击查看答案A.探头去准直器，加铅栅模型，对正X、Y方向
B.置放点源于5倍探头视野的距离之外，与中轴对齐
C.设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像
D.依次90°转动模型，重复采集图像，直至4个方位完成，去掉点源铅栅，换上准直器
E.所能看见的最小线条即为铅栅分辨率，FWHM=0.5×最小铅栅间隔
开始考试点击查看答案A.准直器类型
B.探测距离的变化
C.矩阵的变化
D.收集计数的多少
E.每步采集角度
开始考试点击查看答案A.点源活度0.3～0.5mCi，体积≤1ml，计数率≥30k/s
B.将探头准直器去掉，按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩
C.置放点源于5倍探头视野的距离之外，对准视野中心
D.20%中心能窗，64矩阵，计数1000k以上
E.收起点源，换上准直器，用软件求出视野内的最大计数与最小计数
开始考试点击查看答案A.能峰设置不正确
B.每小时温差超过1℃
C.探头轴向倾斜
D.光电倍增管高压漂移
E.旋转中心漂移
开始考试点击查看答案A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
开始考试点击查看答案A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
开始考试点击查看答案A.视野内各点计数值之间的差异
B.仪器可以分辨的两点之间最小间隔的能力
C.描述图像的畸变程度
D.仪器对已知强度的放射源的响应能力
E.入射光子的脉冲能谱分布的半高宽与其能量之比
开始考试点击查看答案A.探头不带准直器，将点源置于晶体平面中心点垂线上距探头5倍视野长边处
B.设置20%能量窗，用数字化能谱仪分别测量两种放射源的能谱，峰值道至少达到10k计数
C.去掉点源，复原探头位置；在57Co能谱曲线上用插值法求出半高宽值（FWHM），单位是道
D.以57Co与99mTc峰值位置的差值（单位为道）和57Co与99mTc能量差值（18.41keV）计算每道的能量因子，将半高宽换算成能量（keV）
E.依据公式（FWHM/核素能量）%，求出能量分辨率
开始考试点击查看答案A.保证让探测器小于最大计数率
B.保证让探测器达到最大计数率
C.保证让探测器达到并超出最大计数率
D.超出本底计数率100倍以上
E.超出本底计数率1000倍以上
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