第四章 电气设备绝缘试验555

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• 21当整个绝缘普遍劣化，大面积受潮时，有效的试验判断方法是的（   ）。

  A.测泄漏电流

  B.测直流电阻

  C.测介质损耗因数

  D.测绝缘电阻

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• 22以下关于局部放电测量的说法错误的是（   ）。

  A.局部放电的测量能测出绝缘内部是否存在气泡、空隙、杂质等缺陷

  B.绝缘中的局部放电是引起电介质老化的重要原因之一

  C.视在放电量是表征局部放电的唯一参数

  D.放电重复率与外加电压的大小有关，外加电压增大时，放电次数也随之增多

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• 23测量绝缘电阻和测量泄漏电流最主要的区别是（   ）。

  A.试验原理不同

  B.加压时间不同

  C.电压大小不同

  D.试验设备不同

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• 24唯一能够直接测量高达数兆伏的各类高压峰值的测量装置是（   ）。

  A.球隙

  B.电容分压器配用低压仪表

  C.静电电压表

  D.高阻值电阻串联微安表

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• 25当整个绝缘全面老化时，有效地实验判断方法是（   ）。

  A.测泄漏电流

  B.测直流电阻

  C.测介质损耗因数

  D.测绝缘电阻

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• 26以下关于电介质损耗角正切值tanδ说法错误的是（   ）。

  A.如果绝缘内部的缺陷不是分布性而是集中性的，则用测tanδ反应不灵敏。

  B.测量tanδ能有效发现绝缘能反映绝缘的整体性缺陷（全面老化），小容量试品中的严重局部缺陷。

  C.tanδ随电压的变化曲线可判断绝缘是否受潮，含有气泡及老化程度。

  D.西林电桥反接法一般应用于实验室内的测试材料及小设备，实现样品的对地绝缘。

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• 27能有效判别设备绝缘中的集中性缺陷的试验方法是（   ）。

  A.测量tanδ

  B.测量吸收比

  C.测量泄漏电流

  D.测量绝缘电阻

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• 28用QSI电桥测量介质损耗角正切，可以灵敏地发现（   ）。

  A.绝缘普遍性受潮

  B.绝缘局部磨损

  C.绝缘的局部受潮

  D.绝缘中有小气泡

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• 29测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（   ）。

  A.整体受潮

  B.整体劣化

  C.小体积试品的局部缺陷

  D.大体积试品的局部缺陷

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• 30下列试验中，属于破坏性试验的是（   ）。

  A.绝缘电阻试验

  B.冲击耐压试验

  C.泄漏电流试验

  D.局部放电试验

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